型号: 8V182512IDGGREP
功能描述: 特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
制造商: Texas Instruments
制造商: Texas Instruments
产品种类: 特定功能逻辑
RoHS: 是
系列: SN74LVTH182512-EP
工作电源电压: 3.3 V
最小工作温度: - 40 C
最大工作温度: + 85 C
封装 / 箱体: TSSOP-64
封装: Reel
功能: Scan Test Device with Universal Bus Transceiver
电路数量: 2
工作温度范围: - 40 C to + 85 C
商标: Texas Instruments
安装风格: SMD/SMT
产品类型: Specialty Function Logic
传播延迟时间: 7.7 ns
工厂包装数量: 2000
子类别: Logic ICs
零件号别名: V62/04730-01XE
单位重量: 262.600 mg
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