型号: SN74ABT8543DWR
功能描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
制造商: Texas Instruments
标准包装: 1,000
类别: 集成电路 (IC)
家庭: 逻辑 - 专用逻辑
系列: 74ABT
包装: 带卷 (TR)
逻辑类型: 扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
位数: 8
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商器件封装: 28-SOIC
ROHS: 无铅
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