型号: SN74BCT8240ANTE4
功能描述: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
制造商: Texas Instruments
标准包装： 60
类别： 集成电路 (IC)
家庭： 逻辑 - 专用逻辑
系列： 74BCT
包装： 管件
逻辑类型： 扫描测试设备，带反相缓冲器
电源电压： 4.5 V ~ 5.5 V
位数： 8
工作温度： 0°C ~ 70°C
安装类型： 通孔
封装/外壳： 24-DIP（0.300"，7.62mm）
供应商器件封装： 24-PDIP
ROHS： 无铅
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