型号: SN74BCT8374ANTE4
功能描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
制造商: Texas Instruments
标准包装: 60
类别: 集成电路 (IC)
家庭: 逻辑 - 专用逻辑
系列: 74BCT
包装: 管件
逻辑类型: 扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
位数: 8
工作温度: 0°C ~ 70°C
安装类型: 通孔
封装/外壳: 24-DIP(0.300",7.62mm)
供应商器件封装: 24-PDIP
ROHS: 无铅
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